主要功能介绍：
GL SPECTIS 8.0可以与其他设备结合使用，以测量所有类型的光源，显示器以及LED灯。
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Spectis8.0光谱仪采用二氧化硅透射光栅，提高分辨率和系统灵敏度。每个光谱辐射仪都经过单独校准，并且在**光谱校准过程之前，执行三个预校准阶段：（1）波长校准，（2）非线性校正（3）光学杂散光抑制
GL SPECTIS 8.0可以与其他设备结合使用，以测量所有类型的光源，显示器以及LED灯。
系统功能
**的光子技术
GL SPECTIS 8.0光谱辐射仪的光学系统使用光谱学中可用的****解决方案。镜/光栅/镜光谱仪平台使用二氧化硅透射光栅和背面薄型CCD图像传感器。传感器和电子设备具有热稳定性，并且软件会不断监控基线水平。
透射光栅提供了**的透射性能和高扩散效率。这些特性允许设置非常短的积分时间，这对于高精度光源测量非常重要，并且在超快速生产过程控制应用中可能是***关重要的因素。
背面薄型CCD Hamamatsu传感器在宽光谱范围内提供非常高的量子效率。这有助于在UV，VIS和NIR范围内实现更准确和低噪声的光测量。该平台的高光学分辨率使其成为工业应用中窄带光源测量和快速光测量的理想工具。
光度和辐射度校准
在交付之前，将**光谱校准集成到每个光谱仪中，从而能够精确测量不同的**值（例如勒克斯，坎德拉或流明）以及辐射度值，具体取决于安装的测量附件。
暗电流补偿
GL Spectis 8.0光谱仪可以在不同条件下提供非常精确的测量。电子板上安装的温度传感器监视温度变化，并自动补偿暗电流水平的任何变化，从而提供出色的测量稳定性。
系统规格参数
光谱范围* | 250 – 1050 nm |
传感器 | 背面薄型CCD图像传感器，带冷却（5°C） |
像素数 | 2048 |
光学分辨率/ FWHM | 2.0 nm |
波长重现性 | ±0.2nm |
积分时间 | 10ms~10s |
A / D转换 | 16bits |
信噪比 | 2000：1 |
杂散光 | 2*10E-4 |
光谱辐射精度** | ±2% |
色坐标的测量不确定度（x.y）** | ±0.001 |
PC接口 | USB 2.0 |
数据格式 | XML |
外部电源适配器 | 输入：AC 100…240 V（50/60 Hz）1.5 A输出：DC 12V * |
工作温度 | 5-35°C |
尺寸 [H x W x D] | 270 mm x 180 mm x 325 mm |
重量 | 4800 kg |
*传感器的光谱范围。由于使用的光学附件的限制，可能会降低系统的实际光谱范围。 | |
**校准后立即出现**测量不确定度。扩展后的不确定性对应于95％的覆盖概率，覆盖因子k = 2。 | |
该参数在实验室条件25°C，相对湿度45％下有效 | |
注意：仪器，固件和软件规格如有更改，恕不另行通知。 GL OPTIC数据表中包含的所有信息以及任何形式的产品信息均经过精心准备，并包括真实的信息。请注意，由于文本和/或其他错误或可用技术的更改，可能会出现差异。建议在使用产品之前联系我们，以获取**的产品规格。 | |
适用于：
灯具制造商
照明检测机构
与照明检验检测相关的环境或者人员
适合从实验室到现场测试的各种光测量应用
